DIN EN 60749-10-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击

作者:标准资料网 时间:2024-05-04 23:57:52  浏览:9528   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part10:Mechanicalshock(IEC60749-10:2002);GermanversionEN60749-10:2002
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击
【标准号】:DINEN60749-10-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;元部件;半导体;气候;试验;冲击试验;气候试验;集成电路;半导体器件;环境试验;破坏试验;电子设备及元件;电学测量;机械试验;电子工程
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofDINEN60749describesashocktestintendedtodeterminethesuitabilityofcomponentpartsforuseinelectronicequipmentwhichmaybesubjectedtomoderatelysevereshocksasaresultofsuddenlyappliedforcesorabruptchangesinmotionproducedbyroughhandling,transportationorfieldoperation.#,,#
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P;A4
【正文语种】:德语